Salle de test 6301-6302
Cette salle est dédiée à la caractérisation
des
composants semiconducteurs et des micro-systèmes
électromécaniques.
Elle permet de caractériser les réseaux
caractéristiques des transistors de type FET ou Unipolaire.
Cette salle est équipée de 5 traceurs de
caractéristiques
analogiques (3 Tektronix 577 et de 2 Tektronix 576).
Cette salle est équipée de 2 traceurs de
caractéristiques
numériques (HP4140B et ensemble Keithley 220, 230, 619).
1 équipement de test sous pointes TC 500 (Sulzer Electro
Technique)
1 équipement de test sous pointes Model 1034 (Electroglass)
1 équipement de test sous pointes MP 900 (Wentworth)
1 équipement de test sous pointes 0-021-0201 (Wentworth)
2 équipements de test sous pointes MP 700 (Wentworth)
1 LCR-mètre / analyseur de réseau multifréquences Agilent 4194A
1 LCR-mètre multifréquences Hewlett Packard 4275A
1 analyseur de Fourier Tektronix 2642A
1 analyseur vectoriel de signal type Agilent 89410
1 picoampèremètre / source de tension Hewlett
Packard 4140B
Oscilloscopes (Tektronix, Philips, Lecroy)
1 générateur de fonctions programmable Philips PM5192
1 générateur d'impulsions Philips PM5785
4 générateurs de fonctions Standford Research DS345
11 alimentations stabilisées programmables Xantrex HPD30-10
Alimentations stabilisées
Générateurs de fonctions BF
Voltmètres numériques programmables ou non
Marque
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Agilent
89410
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Hewlett
Packard
4194A
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Hewlett
Packard
4275A
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Tektronix
2642A
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